更新時(shí)間：2024-06-16
設備型號：
設備價(jià)格：
訪(fǎng)問(wèn)量：574
| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規格 | CSF-25-80-2UH | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 機械設備 | 應用領(lǐng)域 | 電子 |
| 名稱(chēng) | 哈默納科 | 用途 | 半導體、機器人、機械設備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
用測量顯微鏡測出被測要素上各點(diǎn)相對鋼絲的偏離量，從而得到被測實(shí)際直線(xiàn)，進(jìn)而評定被測要素的直線(xiàn)度誤差。
用鋼絲法測導軌直線(xiàn)度誤差的一個(gè)方案。哈默納科雙頻激光諧波CSF-25-80-2UH測量時(shí)，調整鋼絲的兩端，使測量顯微鏡移到兩端點(diǎn)時(shí)的讀數相等。然后，在被測導軌的全長(cháng)上等距移動(dòng)測量顯微鏡，并記錄下各位置上的讀數，這一系列讀數值描述出導軌由形面構成的實(shí)際直線(xiàn)，進(jìn)而可按要求評定該實(shí)際直線(xiàn)的直線(xiàn)度誤差。
C3>雙頻激光干涉儀測量用雙頻激光哈默納科雙頻激光諧波CSF-25-80-2UH干涉儀輔之以測量直線(xiàn)度的光學(xué)組件可以測某測量線(xiàn)上的被測實(shí)際直線(xiàn)，則按一定的布線(xiàn)方式亦可測出被測平面上各測點(diǎn)的坐標值;此外，用雙頻激光干涉儀輔之以測量角度的光學(xué)組件來(lái)測量角度的原理，可測出被測表面兩測點(diǎn)間高度差引起的角度變化，從而計算出兩點(diǎn)間的高度差。因此，也可像自準直儀一樣，通過(guò)一定的布點(diǎn)方式及測得值的數據轉換得到被測實(shí)際平面各測點(diǎn)的坐標值。
雙頻激光干涉儀測量平面度比水平儀和自準直儀測量直線(xiàn)度的精度更高，若與計算機聯(lián)接
通過(guò)一定的布點(diǎn)方式及測得值的數據轉換得到被測實(shí)際平面各測點(diǎn)的坐標值。
雙頻激光干涉儀測量平面度比水平儀和自準直儀測量直線(xiàn)度的精度更高，若與計算機聯(lián)接
上一篇 : 哈默納科精準光軸諧波FD-25-200-2-G
下一篇 : 哈默納科主軸帶諧波CSF-25-120-2A-G
