更新時(shí)間：2024-06-16
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| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規格 | CSG-40-80-2UH-SP | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 機械設備 | 應用領(lǐng)域 | 電子 |
| 名稱(chēng) | 哈默納科 | 用途 | 半導體、機器人、機械設備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
接觸形式與測頭的選擇
在接觸測量中，體現被測參數的表面與量?jì)x之間的接觸形式分為三種:點(diǎn)接觸形式，如球形測頭與平面工件接觸;線(xiàn)接觸形式哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP，如平面測頭與圓柱形工件表面接觸;面接觸形式，如平面測頭與平面工件接觸。
接觸形式對測量結果有影響。正確選擇接觸形式的原則是優(yōu)先考慮采用點(diǎn)接觸;在條件不允許或實(shí)現較為困難時(shí)，哈默納科平面測頭諧波CSG-40-80-2UH-SP考慮采用線(xiàn)接觸;不得已時(shí)才采用面接觸。
對線(xiàn)紋尺的檢定方法有相對測量法和測量法。在相對測量法檢定線(xiàn)紋尺中，將被檢定線(xiàn)紋尺與比其精度等級高一等的標準線(xiàn)紋尺在線(xiàn)紋尺比較儀上作相對測量，讀出二者刻線(xiàn)間距的長(cháng)度差，從而確定被檢線(xiàn)紋尺刻線(xiàn)間距的誤差。在測量法檢定線(xiàn)紋尺中，將被檢線(xiàn)紋尺在激光干涉比長(cháng)儀上進(jìn)行測量。其實(shí)質(zhì)是將被檢線(xiàn)紋尺的刻線(xiàn)間距轉變成為三面直角棱鏡的位移，從而使干涉系統中兩相干光束的光程差發(fā)生相應的變化，通過(guò)光電接收器對干涉條紋明暗交替次數的檢測，即可求出被檢線(xiàn)紋尺相應刻線(xiàn)間距的誤差在線(xiàn)紋量值傳遞系統中，
