更新時(shí)間：2024-06-15
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| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規格 | CSD-17-100-2UH | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 半導體 | 應用領(lǐng)域 | 電子 |
| 品牌 | 哈默納科 | 用途 | 半導體 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
磁粉探傷方法種類(lèi)很多，適用于焊縫探傷的方法主要有連續磁化法。此法應在外加磁場(chǎng)存在的條件下，施加磁粉進(jìn)行觀(guān)察分析。哈默納科試片檢測機諧波齒輪CSD-17-100-2UH使用的磁粉可分為干、濕兩種，濕法是把干磁粉棍和在某種溶液(例如水、煤油等》中翩成懸浮液稱(chēng)為磁懸濃。磁粉的種類(lèi)有黑磁粉、紅磁粉積熒光磁粉等數種。外加1場(chǎng)可以用直流電、交流龜和電磁鐵(磁扼)來(lái)建立。
磁粉探傷檢出缺陷的能力，對于表面或表層內的裂紋類(lèi)缺隋的尺寸可達數量級。在探傷操作過(guò)程中通常用靈敏度試片或試塊表征探傷靈敏度，在探傷操作中，為了檢查工藝的穩定性、探傷劑質(zhì)髦等因素決定的探傷靈敏度，通常用靈敏度試片來(lái)測速試片和零件一起參與樁個(gè)操作過(guò)程，用
試片上所能顯示的已知缺陷(裂紋寬和探度)的程度來(lái)代表零件的探傷靈敏度。靈敏度試片可由硬鋁沐裂或浪鉻層掃L械開(kāi)裂制作，裂紋的寬度和深度根要求較制，在目前實(shí)際應用的無(wú)損探傷方法中，并不能全部準確地發(fā)現所有的焊接缺陷，哈默納科試片檢測機諧波齒輪CSD-17-100-2UH檢測出來(lái)的缺隋也不一定*如實(shí)反映實(shí)際缺陷的特性和尺寸。
無(wú)損探傷難以做到不漏檢缺陷，原因主要有二方面，一是技術(shù)性方面的誤差;另一方面是非技術(shù)性的誤差
